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变温暗电流与陷阱态密度(tDOS)分析
原理:基于空间电荷限制电流(SCLC)理论,通过在极低至室温(如77K至300K)的宽温区内采集器件暗态下的电流-电压(I-V)特性。利用曲线从欧姆导电区向陷阱填充极限区(TFL)突变的临界电压(VTFL),直接提取材料禁带内的深浅陷阱态密度(Nt)及热激活能。
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原理:手性晶格或手性分子具备独特的三维螺旋不对称性,导致其对不同自旋角动量光子的电偶极矩和磁偶极矩跃迁概率不同。宏观上表现为对LCP和RCP的吸收率差异(CD谱),并在光电探测器中转化为稳态光生电流的绝对差值。
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原理:通过动态信号分析仪在频域内采集器件暗态下的微弱电流波动,精确分离出闪烁噪声(1/f噪声)、散粒噪声与热噪声。结合光谱响应度数据,计算出等效噪声功率(NEP)与比探测率,真实量化器件的本底信噪比极限
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