1.项目介绍
超景深显微镜用于材料样品的三维形貌成像、粒径测量、高度测量及宽度测量等，能够清晰呈现细微凹凸结构，提供接近扫描电镜的观测图像。设备支持 2D 及 3D 图像拼接，最大拼接尺寸可达 50000 像素 × 50000 像素。
2.样品要求
2.1 样品体积至少为 2 cm³，可进行微米级粉末粒径、表面特征 3D 成像等测试。
2.2 放大倍数可在 20 倍至 6000 倍范围内自由调节。
2.3 请详细填写拍摄要求。
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