1. 项目介绍
1.1 X射线衍射（XRD）技术是一种非破坏性分析方法，能够提供材料微观结构的详细信息，在基础研究和工业应用中发挥着重要作用。通过对材料进行X射线衍射并获取衍射图谱，可获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息。
1.2 XRD可用于物相鉴定、粒径表征、点阵参数测定、结晶度分析、残余应力测试、晶体取向及织构测定等多种应用场景。该技术具有不损伤样品、无污染、检测快捷、精度高、可获取信息量大等突出优点。
1.3 本设备支持粉末、块体、薄膜及微区样品的XRD测试，可根据样品类型及研究目的选择合适的测试条件与扫描参数。
2. 样品要求
2.1 粉末样品：至少需50 mg（密度偏大的样品请适量增加）。样品需粒度均匀，粒度约45 μm左右（或过至少200目筛子），手搓无明显颗粒感，越细越好。请尽量用样品管盛装粉末，避免使用样品袋（难以刮下且易损失）。
2.2 块体样品：表面需平整，尺寸在3 cm × 3 cm × 1 cm以内。
2.3 块体/薄膜样品：请注明需要测试的具体面。
2.4 较薄的薄膜/涂层样品（厚度＜100 nm）请慎重选择广角XRD测试，以避免信号过弱。
2.5 微区XRD样品：需标记待测点，束斑最小为0.01 mm，样品高度应不超过8 mm，待测面应平整光滑。
2.6 实验室一般默认测试步长为0.02°。如有特殊步长要求（如更高分辨率或更快扫描），请提前说明。步长有特殊要求时，可能会增加相应的测试费用。
3. 常见问题
3.1 粉末样品量过少会有什么样的影响？
粉末样品要铺满整个样品台，若样品量过少，可能导致 X 射线打在样品台上，从而影响数据质量。
3.2 为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低，甚至没有明显的衍射峰？
样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关，结晶度越好，衍射峰越明显，其次才是样品量和仪器功率。
3.3 步长和扫描速度有何关联？扫描速度对样品的测量有何影响？
步长决定了扫描的精细程度，扫描速度是由步长和每步的时间决定的，每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长，步长越小，则谱越精细，信噪比越高，可用于定量计算，如 XRD 精修等。
3.4 XRD 定量的精确度如何？XRD 为半定量分析，定量测试结果精确度有限，仅供参考。
3.5 Cu 靶的波长是多少？Kα1=1.540538 埃。
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