1. 项目介绍
1.1 四探针测试仪基于基尔霍夫电流定律与电压定律，通过四探针接触样品表面，精准测定材料表面电阻率、方阻，可换算得到电导率，是导电材料电学性能快速表征核心设备。
1.2 适配固体、粉末压片、薄膜等多种样品形态，可实现常温及变温条件下测试，广泛应用于半导体、导电陶瓷、石墨烯、导电聚合物等材料电学性能检测。
2. 样品要求
2.1 粉末样品：需压片测试，质量大于50mg或体积2-3mL，压片致密无孔洞。
2.2 薄膜样品：提供精准膜厚数据，厚度均匀，表面无划痕、无氧化层。
2.3 块体样品：上下表面平行，优先抛光处理，常温样品尺寸≥10mm。
2.4 变温样品：尺寸≤10×10mm，单边≥8mm，厚度0.3-2mm，表面洁净不污染探针。
3. 常见问题
3.1 测试的是表面电阻还是体积电阻？
表面电阻。
3.2 能得到电导率吗？
可以，G=1/R。
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