具体测试对象：
闪烁体探测器（如NaI(Tl)、LaBr₃、BGO）
半导体探测器（如高纯锗HPGe、CdZnTe晶体）
用于伽马射线、X射线、阿尔法粒子及中子探测的核心元器件等
1. 项目介绍
原理：探测器输出的电脉冲幅度与入射粒子的沉积能量成正比。通过多道分析器对大量脉冲按幅度大小进行分类记录，形成脉冲计数随幅度分布的直方图，从而实现对辐射能谱的重建。
作用：能够实现对未知放射性同位素的精准核素识别（指纹谱）；量化评估探测器对不同能量射线的响应线性度与分辨本领；为核医学成像、环境辐射监测及工业无损检测提供探测性能评价标准。
2. 样品要求
半导体探测器（如CZT）内部不能存在严重的晶界、孪晶或高密度夹杂物。此类宏观缺陷会成为强烈的载流子陷阱，导致电荷收集不完全。不仅降低输出脉冲平均幅度，还会在幅度谱全能峰的低能侧形成严重的“拖尾”现象，彻底破坏能量分辨率。
3. 常见问题
3.1 脉冲堆积效应。
当放射源活度过大或测试距离过近时，事件计数率极高。两个或多个射线脉冲在时间上重叠，会被多道分析器错误识别为一个幅度更大的单一脉冲。这不仅导致特征峰计数丢失（死时间过大），还会在全能峰高能侧形成虚假和峰干扰核素识别。
使用设备：多道脉冲幅度分析仪（MCA）等
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