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近场光学显微测试(SNOM)

原理:利用孔径远小于波长的光纤探针或金属散射针尖逼近样品表面(极近场区),通过收集非传播的渐逝波,实现纳米级空间分辨率的光学成像。

具体测试对象:

二维激子材料(如TMDs)

等离激元超表面

转角石墨烯极化激元及低维量子点阵列


1. 项目介绍

原理:利用孔径远小于波长的光纤探针或金属散射针尖逼近样品表面(极近场区),通过收集非传播的渐逝波,实现纳米级空间分辨率的光学成像。

作用:测试纳米尺度的光致发光(PL)、拉曼映射图、局域等离激元与声子极化激元的传播波长与损耗。能够测定低维材料微观介电函数分布;直接观测激子/极化激元的实空间传播路径;验证量子材料边缘、晶界与缺陷处的局域光学各向异性与光电耦合机理。


2. 样品要求

在散射型测试中,探针与样品的近场耦合强度高度依赖局部介电函数。衬底不能对测试波段产生强烈的共振吸收或杂散散射,以免庞大的本底信号完全淹没二维薄膜自身极微弱的近场本征光学响应。


3. 常见问题

3.1 远场本底信号串扰。

远场照明光斑照射在悬臂梁及样品上,产生的远场散射本底远强于真实的近场信号。应采用高阶针尖振幅调制频率(如2Ω或3Ω)进行严格的锁相放大解调,去除宏观干涉条纹的影响,保证真实的微弱近场图像。


使用设备:近场光学显微镜等

近场光学显微测试(SNOM)
原理:利用孔径远小于波长的光纤探针或金属散射针尖逼近样品表面(极近场区),通过收集非传播的渐逝波,实现纳米级空间分辨率的光学成像。
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