具体测试对象：
有机太阳能电池（OSCs）
钙钛矿太阳能电池（PSCs）
P型掺硼直拉单晶硅电池
1 项目介绍
原理：当光伏器件长时间暴露于光照时，光生载流子可能与材料内部的特定杂质（如硅中的硼-氧络合物）发生反应，或诱导离子迁移与相变，从而在材料体内或界面产生新的非辐射复合中心，导致少子寿命和电池效率出现不可逆或半可逆的下降。
作用：测试电池效率（PCE）、开路电压（Voc）、短路电流（Jsc）及少子寿命随光照时间（从数小时到数百小时）的实时衰减曲线。能够量化评估光伏组件在真实户外暴晒初期的功率损耗率；揭示光致缺陷的形成动力学机制；验证各种材料改性策略（如硅片的高温退火、钙钛矿的表面钝化）。
2 样品要求
2.1 由于LID现象可能在极微弱的光照甚至室温放置下就开始缓慢发生，待测样品在进行基准测试（t=0）前，必须在绝对避光、干燥的环境中充分静置恢复，以确保所有的亚稳态缺陷完全消除，回到真正的初始态。任何测试前的意外光暴露都会导致初始参数偏低，严重压缩表观衰减幅度。
2.2 LID测试往往需要在强光下连续追踪几十甚至上百个小时。如果电极使用低熔点金属，或者银浆固化不完全，长时间光照产生的热应力会导致电极与半导体界面发生物理剥离，或探针接触电阻变大。这种因外部机械连接老化导致的效率骤降，极易被错误归因为材料本征的光诱导衰减。
3 常见问题
3.1 虚假雪崩。
若使用的模拟光源光斑不均匀（空间均匀度<90%），或者电池本身存在局部漏电缺陷（针孔），强光照会导致局部区域电流密度过大，形成极其严重的热斑。热斑处的材料会发生不可逆的物理烧毁，导致整个器件的测试曲线呈现毫无规律的锯齿状断崖式下跌，完全掩盖正常的指数型衰减轨迹。
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