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电致发光测量仪 NovaLum
设备型号：NovaLum 1.适用于MicroLED、OLED、LED显示屏等面光源特性发光器件； 2.显微系统+Mapping，针对微纳电致器件，如MicroLED、微纳器件阵列等； 3.高度集成化：自动对焦和观察、自动位移、自动子器件切换。 测试周期：12个工作日
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