电致发光测量仪 NovaLum

电致发光测量系统NovaLum是东谱科技HiOE稳态综合光电特性测量平台中的重要成员，用于对电致发光样品的性能进行精确测量。该系统包括IVL测试、器件寿命测试、空间角度分布测试等功能，可以便捷、快速地得到电致发光器件全面的性能参数，如电致发光效率（电流效率、功率效率、外量子效率等）、光度学、色度学、稳定性、发光角度分布等相关性能参数。该设备很好地解决了行业上：

（1）利用分光辐射度计测试时，存在低亮度测试速度慢、高亮度过曝的问题，从而不能用于易老化器件的测试，也不适宜用于宽亮度范围的器件测试。

（2）利用积分球系统测试时，无法得到准确的前向亮度参数，且高亮度时也存在过曝问题，不能对强发光样品进行测试等的问题。

1.外量子效率EQE

2.光谱、光谱功率分布

3.亮度L、JVL、IVL

4.电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率（W）、电功率密度等

5.辐射度学：光谱功率分布、辐射通量、光通量、光视效能、峰值波长、主波长等

6.色度学：CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1（mred）、显色指数（CRI）、RGB 颜色值等

样品类型： QLED、OLED、LED、PeLED、显示屏、其它各种类型的电致发光器件等。

样品保存条件： 常温（18-28℃）、干燥（RH 30%-60%）环境，避免机械冲击（防止电极脱落），未封装样品需在真空干燥器中保存（保存时间≤14天）。

样品尺寸要求： 芯片/器件尺寸：1mm×1mm-30mm×30mm，厚度≤5mm；模组尺寸：≤100mm×100mm，需提供清晰的电极引脚（间距≥0.5mm）。

1. 多类型电致发光器件综合性能表征：适配QLED、OLED、LED、PeLED及显示屏等各类电致发光器件，全面测试EQE、光谱、亮度、电学及色度学等多类参数，完整呈现器件发光与电学性能。

2. 宽亮度范围电致发光器件精准测试：解决低亮度测试慢、高亮度过曝的行业痛点，适配易老化器件及宽亮度范围器件测试，精准获取不同亮度下的器件性能参数，保障测试准确性。

3. 电致发光器件性能优化与质量管控：通过IVL、器件寿命、空间角度分布等测试，分析器件亮度、效率、色度及稳定性的影响因素，为器件制备工艺优化提供数据支撑；同时适配批量检测，助力生产质量管控。

4. 电致发光器件多维度特性研究：依托光谱、辐射度学、色度学等全面测试功能，结合精准的前向亮度测量优势，深入探究电致发光器件的发光机制与性能规律，支撑各类电致发光器件的研发与性能验证。