1.项目介绍
电子通道衬度成像（ECCI，Electron Channeling Contrast Imaging）是一种基于扫描电镜的晶体材料缺陷表征技术，可在不制备薄样品的情况下对材料近表面的晶体缺陷进行成像分析。
1.1 位错统计：ECCI 表征面积较大，可对一定范围内的位错进行定量或半定量分析。
1.2 特定位置位错分析：无需减薄处理，即可对裂纹尖端、特定取向晶粒、应力集中区域等特殊位置的位错进行表征。
1.3 环境试验：可对腐蚀环境下的变形及失效样品中的位错进行表征。
注：原位试验（单轴、多轴、循环变形等）目前暂未开放测试。
2.样品要求
2.1 样品应为晶体材料，表面需具有良好的晶体结构。
2.2 样品尺寸小于 1 cm × 1 cm × 0.5 cm。已完成 EBSD 测试的样品可直接用于 ECCI 测试。
2.3 需对样品进行抛光处理，以获得平整的表面。
2.4 请提供拍摄倍数要求及所需图片张数，目前单样最多提供 10 张图片。
3.常见问题
3.1 电子通道衬度成像（ECCI）技术的优势？
①样品制备简单和非破坏性：相比于透射电镜技术复杂的样品制样过程，用于ECCI表征的样品制备过程非常简单，只需将块状样品的表面抛光至镜面即可；对于特定取向的晶粒、应力集中区、失效开裂区的缺陷分析，ECCI 技术也只要通过常规的样品制备就可实现观察，无需FIB技术定点制备薄片样品；由于制样过程无需破坏样品，在ECCI表征后样品还可进行后续实验；
②高通量分析：结合扫描电镜的大视野和大像素成像技术特点，ECCI技术可实现大面积高通量的晶体缺陷采集，为实现晶体缺陷的统计分析提供可能；
③更高的分析灵敏度和分辨率，更高效率：ECCI技术利用扫描电镜高分辨成像，其数据采集效率高，图像分辨率高，对材料的形变灵敏，即使材料内部有较小的形变，也将在ECCI图像中看出端倪。
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