1.项目介绍
岩石薄片分析采用透射/反射两用偏光显微镜，并配备图像分析系统，可用于岩石、矿物的组分含量分析、结构特征观察、空间类型判别及孔隙结构表征等。
2.样品要求
2.1 岩石或铸体样品直径不小于 25 mm，长度不小于 50 mm；或提供不小于该尺寸的岩石标本。
2.2 如需委托实验室进行薄片制备，请提前与技术经理确认。
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