▍ 项目介绍
多通道电致发光特性测量系统EL-Lab是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的绝对法电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完善的电致发光的测量方案。该系统由一系列相应的分布测量组件组成，包括光电测量模块、亮度校准模块、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。
▍ 测试项目
1.发光效率参数：外量子效率、电流效率、功率效率等
2.电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率密度等
3.辐射度学参数： 光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等
4.光度学参数：亮度、光通量等
5.色度学参数： CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1、显色指数等
6.器件老化参数：不同老化时间下的上述参数
▍ 样品要求
1.量子点发光二极管（QLED）
2.有机发光二极管（OLED）
3.发光二极管（LED）
4.钙钛矿发光二极管（PeLED）
5.其它各种类型的电致发光器件
▍ 常见问题
1. 多类型电致发光器件综合特性表征：适配QLED、OLED、LED、PeLED等各类电致发光器件，全面测试发光效率、电学、辐射度学、光度学及色度学等多类参数，完整表征器件发光与电学性能。
2. 电致发光器件批量高效测试：依托通道可扩展特性，灵活扩展测试通道数量，实现多组器件并行测量，适配批量样品检测需求，大幅提升研发测试与生产质检效率。
3. 电致发光器件老化与变温特性研究：通过老化参数测试，跟踪不同老化时间下器件各项性能的衰减规律；结合变温测量功能，探究温度对器件发光、电学特性的影响，为器件稳定性优化提供数据支撑。
4. 多场景电致发光器件测试与研发支撑：灵活适配手套箱、变温、老化等丰富测量场景，可根据测试需求搭建专属测量系统，支撑各类电致发光器件的研发、工艺改进及性能验证。
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