1.项目介绍
本测试可针对多种类型样品开展相关性能检测，具体可测试样品类型及对应测试参数如下：
（1）可测试样品类型
涵盖粉末样品、薄膜样品、半导体样品及晶体样品，可满足不同材质、不同形态样品的测试需求，适配多种科研及检测场景。
（2）测试参数及范围
常规测试参数：可检测样品的表面光电压、表面光电流、光伏相位，测试波长范围为300~1100mm；
瞬态测试参数：可检测瞬态表面光电压，对应的激光波长为355mm，能够精准捕捉样品瞬态光响应特性。
2.样品要求
（1）研磨至细小颗粒，确保均匀、存于玻璃瓶或塑料管中，勿用样品袋（避免静电干扰）、用量≥0.3ml（堆积体积）
（2）薄膜样品需保证一定厚度，建议面积控制在20mm×5mm~40mm×15mm之间，其形态与电化学工作电极类似；同时需预留出一段空白导电玻璃（具体详见下图）。
（3）半导体及晶体样品在测试前，需提前引出阴阳极接头。（说明：薄膜、半导体及晶体样品仅可开展表面光电压测试）
3.常见问题
无
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东谱科技（广州）有限责任公司 东谱检测
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